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Bare PCB Test Probes | BBT전기 검사 20년의 경험을 토대로, 가장 광범위한 상용품 및 고객 특성에 맞는 application을 제공한다. BBT검사에서 증명된 성능은 신뢰성, 가치 창출을 위한 산업표준을 설정한다. |
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Battery/Portable Application Probes |
battery interconnect probe의 다목적 라인은 성능, 비용, 조립 요건사항을
맞추는데 폭넓은 디자인을 제공한다. 디자인 전문가, 완벽한 제조 능력은 귀사의 제품을 보다 신속 편리하게 출시할 수 있도록 지원 한다. |
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General Purpose Probes | 다양하고 특성있는 산업의 폭넓은 application을 고려해 범용 Probe의 광범위한 선택을 제공 한다. |
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High Current/High Frequency Probes | 커넥터, wire harnesses, modules, 45A 공급 device의 전원인가 기능 테스트를 위해 high current probe 를 제공한다. 저 저항 특성 및 고 전류 tip 특성을 가지고 있다. 그리고 cellular phone application을 우한 low impedence(통상 50옴), 광 대역 특성(3Ghz)이 있음.또한 network analyzer, time domain reflectometer의 특성이 있음. |
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Loaded PCB Test Probes | false open을 실질적으로 제거 하기위해 bias-ball 디자인의 향상된 버젼의 특성을 가진 The PogoPlus® Series는 loaded board test의 특이한 요구를 대처하고, 테스트 조건의 모든 방법을 수용하기 위해 size 및 tip style의 모든 범위를 제공 한다. |
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Receptacles | BBT전기 검사 20년의 경험을 토대로, 가장 광범위한 상용품 및 고객 특성에 맞는 application을 제공한다. BBT검사에서 증명된 성능은 신뢰성, 가치 창출을 위한 산업표준을 설정한다. |
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Semiconductor Probes |
다양한 package type의 요구를 낮추기 위해 4mm에서 1.27mm pitch범위를
가진, the Double-Ended Pogo®, the Single-Ended Mini-Mite" Series Probes, and the Bantam® Series probes를 포함한 폭넓고 다양한 semiconductor probe를 제공 한다. |
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Switch Probes |
wire harness connector내의 접촉 여/부를 감지 하는 테스트 application을 위해 디자인 되었음. 이 경우 switch probe는 전기적 상호작용을 제공하고,
커넥터가 정상적으로 제작되었는지 확인한다. 접촉이 누락 되었으면 part reject 되고, 모든 접촉이 되면, part accept 된다. 그리고 전기적 테스트가
수행된다. Harness 내의 커넥터와 wire의 전기적 접목을 검증한다. |
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Test System Interface Probes |
ECT는 test system의 모든 주요 브랜드를 위해 interface probe source 와
동시에 만약 일반 제품이 고객의 충족 요건에 맞지 않을 경우 ECT는 디자인 및 제작에 있어 전문적 지원을 다 할 것임. |
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Wire Harness Probes | North American automotive 및 주요 기기 제조업체에 wire harness probe의 최대 공급처이며, ECT probe는 continuity testing, push testing, presence checking, terminal push-out and other wire harness test applications를 위한 신뢰성 있는 테스트 결과를 보장한다. |
